差示掃描量熱儀DSC法怎么測(cè)氧化誘導(dǎo)期

發(fā)布日期：2023-09-15      瀏覽次數(shù)：1427

差示掃描量熱儀DSC法怎么測(cè)氧化誘導(dǎo)期？

什么是氧化誘導(dǎo)期？

氧化誘導(dǎo)期（OIT）是測(cè)定試樣在高溫（200攝氏度）氧氣條件下開(kāi)始發(fā)生自動(dòng)催化氧化反應(yīng)的時(shí)間，是評(píng)價(jià)材料在成型加工、儲(chǔ)存、焊接和使用中耐熱降解能力的指標(biāo)。氧化誘導(dǎo)期（簡(jiǎn)稱OIT）方法是一種采用差熱分析法（DTA）以塑料分子鏈斷裂時(shí)的放熱反應(yīng)為依據(jù)，測(cè)試塑料在高溫氧氣中加速老化程度的方法。其原理是：將塑料試樣與惰性參比物（如氧化鋁）置于差熱分析儀中，使其在一定溫度下用氧氣迅速置換試樣室內(nèi)的惰性氣體（如氮?dú)猓?。測(cè)試由于試樣氧化而引起的DTA曲線（差熱譜）的變化，并獲得氧化誘導(dǎo)期（時(shí)間）OIT（min)，以評(píng)定塑料的防熱老化性能。

氧化誘導(dǎo)期OIT測(cè)試圖譜

專為塑料、橡膠行業(yè)測(cè)量氧化誘導(dǎo)期設(shè)計(jì)，氧化誘導(dǎo)期熱穩(wěn)定實(shí)驗(yàn)適用于國(guó)標(biāo)GB/T17391-1998,GB/T2951.42-2008,GB/T15065-200

GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004

 






差示掃描量熱儀-氧化誘導(dǎo)期專用

儀器操作

1) 接通氧氣和氮?dú)猓瑢怏w壓力調(diào)節(jié)為0.2MPa左右

2) 將盛有（15±0.5）mg試樣的坩堝置于熱分析儀支架上

3) 下載氧化誘導(dǎo)期-200溫度

4) 設(shè)置參數(shù)、數(shù)據(jù)采集、運(yùn)行

5) 實(shí)驗(yàn)結(jié)束，導(dǎo)出圖譜，打印